Microscoopbouwer FEI krijgt voet aan de grond op de moeilijke Japanse markt. Een elektronicafabrikant uit het land van de rijzende zon (de naam is niet vrijgegeven) heeft FEI‘s DA 300 HP Dualbeam-analyzer geselecteerd voor de controle van zijn CCD-chips. ’Nu elektronica kleiner wordt en de prestaties omhooggaan, moeten de testapparaten volgen‘, zegt Jim Pouquette van FEI Azië. ’De DA 300 is het antwoord op de groeiende vraag naar tools die een scala aan geavanceerde productieprocessen op nanoschaal kunnen controleren en verbeteren.‘ De meegeleverde software bevat recepten voor automatisering zoals automated defect redetection (ADR) en automated defect cross-sectioning (ADX). Gebruikers kunnen zich focussen op de parameters die ze moeten veranderen op de opbrengst te verhogen.
This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one for just €20 for the first year and enjoy all the benefits.
