Keithley brengt versie 3.2 van zijn Automated Characterization Suite op de markt. De software kan halfgeleiders testen en karakteriseren op het apparaat-, wafer- en cassetteniveau. Versie 3.2 breidt de automatiseringsmogelijkheden uit met parallelle testfuncties voor meerdere sites. ACS kan tot honderdduizend dies per wafer afhandelen en ondersteunt programmeerbare exitcondities zodat tests kunnen worden overgeslagen als er één een substandaard apparaat aangeeft. Verder zijn er nieuwe realtime plotmogelijkheden op waferniveau en ondersteuning voor Keithleys 2635 en 2636 System Sourcemeter-instrumenten met 1 fA stroommeetresolutie.
This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one for just €20 for the first year and enjoy all the benefits.
