Elite 300-meetplatform Cascade haalt 45 nm

De Elite 300 van Cascade Microtech is ontworpen voor 300 mm waferprobing van componenten met procesnodes van 45 nm en minder. Tot de toepassingen behoren RF/DC-karakterisering en -modellering, betrouwbaarheidsmetingen op waferniveau en analyse van IC-falingen. Het temperatuurbereik van de Elite 300 loopt van -60 tot 300 graden. Er zijn drie modellen: de Elite 300/AP met Pureline II, Attoguard, Microchamber en automatisatietools, de Elite 300/M met Microchamber en de Elite 300/S.