FEI heeft een elektronenmicroscoop gebouwd die structuren zichtbaar maakt van 0,5 ångström en kleiner. De Nederlandse vestiging van de Amerikaanse apparatenbouwer werkte daarbij samen met het Amerikaanse ministerie van Energie en het Duitse Ceos uit Heidelberg. FEI zegt dat het met de Transmission electron aberration-corrected microscope (Team) mogelijk om te onderzoeken hoe atomen binden om materialen te vormen, hoe materialen groeien en hoe ze reageren op verschillende invloeden van buitenaf.
De doorbraak is behaald dankzij de inzet van zowel Tem- (transmissie-elektronenmicroscopie) als Stem- (scanning transmissie-elektronenmicroscopie) technieken. FEI en zijn partners baseerden het nieuwe instrument op de Titan S/Tem-technologie. Ceos ontwikkelde twee bolvormige afwijkingscorrectoren om de beeldkwaliteit te verhogen. Het apparaat is verder uit gerust met nieuwe stabilisatoren. Op de verkregen Tem-beelden zijn details tot 0,5 ångström te zien. In de Stem-modus zijn zelfs beelden verkregen die nog gedetailleerder zijn.
This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one for just €20 for the first year and enjoy all the benefits.