Keithley Instruments heeft de software en firmware van zijn Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System geüpdatet. Keithley Test Environment Interactive (KTEI) versie 7.2 heeft negen nieuwe testbibliotheken voor zonnecellen, een uitgebreid frequentiebereik voor capaciteit-voltagemetingen en ondersteuning voor het negenslots instrumentchassis. De update is gratis voor bestaande Model 4200-SCS-gebruikers.
De bibliotheken in KTEI 7.2 breiden de mogelijkheden van het systeem uit voor I-V-, C-V- en weerstandsmetingen aan zonnecellen. De software-update ondersteunt ook de nieuwe testtechniek Drive-Level Capacitance Profiling (DLCP), die eerdere oplossingen niet nauwkeurig konden uitvoeren. Het frequentiedomein loopt nu van 1 kHz tot 10 MHz. Eerder was de ondergrens nog 10 kHz. Die extra frequenties maken het mogelijk om platte lcd-schermen en Oled‘s te testen.
This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one for just €20 for the first year and enjoy all the benefits.