Een afbeelding van de TNO-, TU Delft- en Zeiss-logo‘s op twee bij twee micrometer heeft Emile van Veldhoven van TNO Delft de eerste prijs opgeleverd in de Carl Zeiss Nano Image Contest, categorie heliumionmicroscopie. Deze imagingtechniek is vergelijkbaar met elektronenmicroscopie, maar is in theorie in staat nog hogere resoluties en beter contrast te halen. Daarnaast is een heliumionenbundel net als een elektronenbundel te gebruiken om structuren in substraten te kerven. Het eind vorig jaar geopende Van Leeuwenhoek Laboratorium van samenwerkingsverband Nanolab NL biedt in Delft onderdak aan de enige heliumionmicroscoop in Nederland.
This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one for just €20 for the first year and enjoy all the benefits.
